檢漏儀z*小可檢漏率(即儀器靈敏度)與在檢漏過程中能夠達(dá)到的靈敏度(即檢漏靈敏度)是不完全相同的。倒如,氦質(zhì)譜檢漏儀的靈敏度都是在一定的、不接被檢件的z*佳化條件下測出的,而在具體使用中能夠達(dá)到的檢漏靈敏度則與被檢件的實際狀況以及檢漏方法有很大關(guān)系。當(dāng)然,當(dāng)使用條件相同時,一般講,那些靈敏度高的儀器能達(dá)到較高的檢漏靈敏度。但是,并不是高靈敏度的檢漏方法和儀器在任何時候都能達(dá)到z*好的效果,即達(dá)到z*好的檢漏靈敏度。
選擇什么樣的檢漏儀器和方法,z*重要的是要求能達(dá)到一定的檢漏靈敏度。
檢漏靈敏度,即確定被檢件z*大允許的總(或單個漏孔的)漏率時,要以滿足設(shè)計、安裝、運輸?shù)囊鬄樵瓌t。通常,靈敏度較高的方法能可靠地檢出所存在的漏孔,但就檢漏工作而言,提高對檢漏靈敏度的要求,意味著要用高靈敏度的儀器和方法,勢必使設(shè)備和運轉(zhuǎn)費用增加。
圖13-39給出靈敏度的增加與設(shè)備運轉(zhuǎn)容易程度間的關(guān)系(對于某種檢漏方法而言)。這種曲線有一個平壩區(qū)(z*佳工作區(qū)),超過這個區(qū)域,使靈敏度提高或降低,但會使運轉(zhuǎn)的容易程度急劇下降。例如打氣試漏法,對于檢示大于10Pa·L/s的漏孔時,會由于氣體迅速放出,被檢件內(nèi)的充氣壓力急劇下降,使檢漏工作造成困難。而在檢示小于10^ - Pa· L/s的漏孔時,會由于形成氣泡時間過長,使檢測交得困難。再如質(zhì)譜檢漏法,當(dāng)采用動態(tài)檢漏時,靈敏度低,操作容易,反應(yīng)時間與清除時間小。而在采用靜態(tài)檢漏時,靈敏度高,但運轉(zhuǎn)困難,費時間。
檢漏靈敏度高的方法和儀器,其設(shè)備費和運轉(zhuǎn)費用也是高昂的,如圖13-40所示。對于同一種方法和儀器,提高靈敏度需要增加附加的設(shè)備和復(fù)雜的操作程序,檢驗費用自然也就增加。在圖13-39曲線平壩區(qū)右端,運轉(zhuǎn)容易程度下降,運轉(zhuǎn)時間加長,都引起成本的增加。